TechStandard

Точность цилиндров.

Внутренняя поверхность цилиндра, облицованного полимерной композицией, не подвергается механической обработке. Для получения требуемой точности цилиндров необходимо было установить факторы, влияющие на точность формования покрытия.

При нанесении полимерного покрытия на внутреннюю цилиндрическую поверхность формующим элементом служит стержень, устанавливаемый концентрично относительно поверхности. При отвердении полимерной композиции в щелевом зазоре ее усадка направлена по нормали к поверхности цилиндра. После отверждения полимерной композиции внутренний диаметр футерованного цилиндра будет больше диаметра формующего стержня на величину

, (4.1.)

где - усадка полимера в первые сутки после нанесения покрытия;

- усадка за время .

Величина не зависит от диаметра цилиндра, но прямо пропорциональна толщине слоя полимерного покрытия:

, (4.2.)

где ky - коэффициент пропорциональности, выражающий несвободную усадку полимера;

t - толщина слоя полимерного покрытия.

Величина ky равна сумме величин ky24 и ky, выражающих усадку через сутки после нанесения полимерного покрытия и усадку за время , т.е.

ky=ky24+ky. (4.3.)

Значения k для ряда полимерных композиций, применяемых с целью нанесения покрытия, приведены в табл. 4.1.

Таблица 4.1.

Определение коэффициентов усадки.

Анализ данных измерений внутренних диаметров цилиндров с полимерными покрытиями показал, что рассеивание величины усадки подчиняется закону нормального распределения. Основные статистические характеристики, определяющие распределение исследуемых размеров - центр группирования и среднее квадратическое отклонение , выражены следующими соотношениями:

, (4.4.)

где ky - коэффициент пропорциональности, значения которого для ряда полимерных композиций приведены в табл. 4.1;

t - толщина слоя полимерного покрытия;

, (4.5.)

где , - верхняя и нижняя границы рассеивания величины усадки.

Границы рассеивания также пропорциональны толщине полимерного покрытия, т.е.

, (4.6.)

где ky2 - коэффициент пропорциональности;

t - толщина слоя покрытия;

,

(4.7.)

где ky1 - коэффициент пропорциональности;

t - толщина слоя покрытия.

Среднее квадратическое отклонение выражается зависимостью

. (4.8.)

Значения коэффициентов ky, ky1и ky2 для ряда композиций приведены в табл. 4.2.

Дополнительно

Естественно-научные концепции развития микроэлектронных и лазерных технологий
Электроника - наука о взаимодействии электронов с электромагнитными полями и о методах создания электронных приборов и устройств (вакуумных, газоразрядных, полупроводниковых), используемых для передачи, обработки и хранения информации. Возникла она в начале ХХ века. На ее основе были созданы элект ...

Технология выращивания сахарной свеклы в Сумской области
Сахарная свекла - важная техническая культура, корнеплод которой достигает 500г и больше, содержит 19-22% сахара и более, является основным сырьем для сахарной промышленности. Кроме сахара, в процессе переработки корнеплодов получают ценные дополнительные продукты - мелясу и жом. Ботва сахарной св ...